G07000 - SEMI G70 - プラスチックパッケージリードフレーム測定用装置とリードフレーム支持具のスタンダード Revision:SEMI G70-0996 (Reapproved 0811) - Inactive SEMI MF1619 — Test Method

SEMI MF1619 — Test Method for Measurement of Interstitial Oxygen Content of Silicon Wafers by Infrared Absorption Spectroscopy with p-Polarized Radiation Incident at the Brewster Angle

This Guide is applicable to any type of equipment for processing semiconductor units

orgで入手可能になり，2004年11月発行に至る。初版は1990年。

1-0703 (first published)

G07000 - SEMI G70 - プラスチックパッケージリードフレーム測定用装置とリードフレーム支持具のスタンダード Revision:SEMI G70-0996 (Reapproved 0811) - Inactive SEMI MF1619 — Test Methodglobal Assembly & Packaging Technical Committee201171global Audits and Reviews Subcommittee20118www. semiviews. org www. semi. org1996200411 : Z Referenced SEMI Standards SEMI G57 Guideline for Standardization of Leadframe Terminology